我们参加了第40届日本电子测试展[电子检测·试验·测量展]

我们参加了「第40届日本电子测试展」（会期：2026年1月21日（周三）～23日（周五）会场：东京国际展览中心）。
展会期间承蒙众多客户莅临展位，我们得以向各位介绍新产品并提出创新方案。
衷心感谢各位的到访。

此外，本次展出的测试探针产品目录可通过本公司官网下载获取。
如有任何疑问，敬请随时垂询。

南信分公司搬迁通知

南信分公司已决定迁入新楼，新楼的建设已进行了一段时间。

25 周年问候

2024 年，我们公司将庆祝成立 25 周年。
我们要感谢大家的支持和惠顾。
我们的全体员工一直并将继续致力于通过不懈的努力和挑战开拓未来、 我们致力于打造一家值得客户信赖的公司。