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我们参加了第40届日本电子测试展[电子检测·试验·测量展]
今年我们再次荣幸参展“第40届日本电子测试展”。
承蒙众多客户的关注,此次展会成为我们介绍新产品并提供解决方案的宝贵契机。
衷心感谢与各位的相遇。

【展品介绍】
目视检测辅助装置 AIP-3000在线型/AIP-4000台式型
・集中管理系统 AIP-Remote
・在线压机检测机+FCT
・通用图像检测机(机械臂+摄像头)
LED检测机 IP-1000
测试探针
测试探针维护工具

衷心感谢各位莅临展会。
本公司可针对设备及测试探针提供定制化服务,以满足客户需求。
海外据点亦提供本地化维护支持。

此外,通过本公司官网右上角“会员注册”通道完成注册,即可下载测试探针及LED检测机产品目录。

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