第40回エレクトロテストジャパン[エレクトロニクス検査・試験・測定展]に出展しました

「第40回　エレクトロテストジャパン」（会期：2026年1月21日（水）～23日（金）会場：東京ビッグサイト）に出展いたしました。
会期中はたくさんのお客様にお立ち寄りいただき、新商品のご紹介や、新しい提案等をさせていただくことができました。
皆様のご来場、誠にありがとうございました。

なお、展示いたしましたテストプローブにつきましては、弊社ホームページにてカタログのダウンロードが可能です。
ご不明な点等がございましたら、お気軽にお問い合わせください。

南信事業所　移転のお知らせ

南信事業所は、かねてより着工しておりました新社屋へ移転するこ
ととなりましたのでご案内申し上げます。

設立25周年のごあいさつ

2024年をもちまして弊社は設立25周年を迎えることとなりました。
これもひとえに皆さま方のご支援とご愛顧の賜物と心から感謝を申し上げます。
これまでも、そしてこれからも社員一同、不断の努力と挑戦で未来を切り拓き、お客様に安心して任せられる会社づくりにまい進してまいります。